【竹科變電所事故：從電力事件看半導體製程風險管理】

近日（3/16）新竹科學園區發生變電所爆炸起火事件，除造成人員受傷外，也對園區供電品質造成短暫影響。

初步資訊顯示，該事件導致區域性電壓下陷（Voltage Sag），對部分廠區設備運作與製程穩定性帶來潛在風險。

在半導體製造環境中，電力異常不僅限於停電，更常見且難以察覺的是短時間的電壓波動。

此類現象可能不會立即造成設備停機，但卻可能影響製程參數，進而對產品良率與品質產生影響。

本次事件再次凸顯以下關鍵議題：

1. 電力基礎設施風險仍不可忽視

2. 電壓品質對高精密製程影響顯著

3. 即時防護與數據驗證機制的重要性

t-Parus 長期致力於提供電力穩定與製程監控相關解決方案，

包括電壓異常防護系統（VSP）、製程感測工具（WaferSense）以及整合型環境監控方案，

協助客戶在面對突發電力事件時，降低風險並確保生產穩定。

未來，我們也將持續關注電力品質議題，並與產業夥伴共同提升半導體製造環境的韌性與安全性。